安捷伦（Agilent）推出业内Z全面的LTE信号分析解决方案

　　Agilent3GPPLTE选件的*设计使研发工程师可对LTE原型设备的射频和调制特性进行深入分析。该选件可对数据信道和控制信道上的整帧、子帧、时隙或单独符码，以及同步信号和参考信号进行频谱分析和EVM测量。与Agilent89600VSA软件结合使用时，可作为*能够在单个选件上分析上行链路（SC-FDMA）和下行链路（OFDMA）LTE信号的工具。因此，研发工程师可以使用同一个解决方案在基站和移动站上进行发射机测量。
　　
　　工程师可以使用频谱和信号分析仪、示波器和逻辑分析仪在结构图中的任何位置（从基带到天线）进行测量，也可以对使用AgilentEEsof*设计系统（ADS）或MathWorksSimulink解决方案创建的仿真设计进行测量。工程师现在可以使用一个测量控制台对整个结构图进行一致性测量和显示，而无需再设计各自的显示和测量算法，这样可极大地节省时间和资金。由于工程师能够使用目前市场上的前端软件和的标准，所以也就可以保证获得更的测量结果。
　　
　　3GPPLTE选件和高性能的AgilentPSA系列频谱分析仪结合使用时，可为10MHzLTE信号提供业内的-50dBEVM――这种能力可满足EVM对高达64QAM的高阶调制方案的苛刻要求。该软件使用广泛的、基于有源信道的彩色编码和标记耦合来表示多个EVM迹线，从而简化LTE信号的分析和测量。
　　
　　该选件可支持的具体发射机调制质量测量包括每个OFDM载波的EVM、每个OFDM符码的EVM、每个时隙的EVM和每个资源块的EVM―安捷伦*的测量技术。与其他LTE解决方案相比，Agilent3GPPLTE解决方案可为RMSEVM提供EVM迹线，为所有LTE信号和信道（例如，数据和控制信道、同步和参考信号）的单个载波、符码、时隙和资源块提供EVM。这种*的功能为工程师提供了一个强大的工具，使工程师可以更好地对LTE原型设备进行故障诊断，找到调制质量问题，无论这些问题发生在物理层的哪个地方。
　　
　　安捷伦信号分析部副总裁GuySene表示：“安捷伦将继续竭尽全力，满足工程师在开发LTE新产品时对性能和功能的需求。我们的新型3GPPLTE选件可对LTE信号进行全面分析，这使我们向实现承诺又迈进了一大步。另外，它再次证明了我们的承诺――确保广受欢迎的89600系列VSA软件支持所有新兴通信标准，使当今的工程师能够应对3GPPLTE等快速发展的技术。”
　　
　　Agilent3GPPLTE信号分析解决方案支持高达20MHz的所有LTE带宽以及1类FDD帧结构，此外还支持所有调制制式（包括BPSK、QPSK、16QAM、64QAM）和所有调制序列（包括CAZAC和OSxPRS序列）。它可对为LTE下行链路发射机定义的4个发射天线端口中的任何一个进行分析，并支持自动检测下行链路数据猝发脉冲分配，以及手动输入数据脉冲和自动回放AgilentSignalStudio设置文件。在LTE上行链路方面，安捷伦*的信号分析解决方案可支持3GPP标准所定义的半子载波偏移。此外，它还具有一个精心设计的界面，其中包括多达6个显示屏幕。用户可选择同时显示所有屏幕或单独显示某个屏幕，从而更地查看测量结果。